The standard for insulation resistance of a hot runner system is: >10MΩ during high-temperature operation, and >50MΩ under ideal conditions; >100MΩ trong điều kiện lạnh (nhiệt độ phòng). Chỉ số này là cơ sở cốt lõi để đánh giá xem hiệu suất cách nhiệt của hệ thống có an toàn và đáng tin cậy hay không.
1. Giải thích chi tiết về tiêu chuẩn điện trở cách điện
Điều kiện vận hành Tiêu chuẩn chấp nhận được Tiêu chuẩn lý tưởng Giải thích
High-Temperature Operation (150℃~400℃) >10MΩ >50MΩ Điện trở của vật liệu cách nhiệt giảm tự nhiên ở nhiệt độ cao, nhưng vẫn phải duy trì đủ điện trở để tránh rò rỉ.
Tắt máy ở nhiệt độ bình thường (<80℃) >100MΩ >Thử nghiệm ở trạng thái nguội 200MΩ{1}}đóng vai trò là tiêu chuẩn an toàn trước khi đưa vào vận hành; giá trị cao hơn cho thấy độ tin cậy cao hơn.
Hiệu chỉnh hiệu ứng nhiệt độ: Cứ tăng 10 độ, điện trở cách điện giảm khoảng một nửa; do đó, giá trị đo được trong điều kiện nhiệt độ-cao cần được đánh giá cùng với đánh giá nhiệt độ động.
2. Điều kiện và phương pháp thử nghiệm
Kiểm tra điện áp: Sử dụng megohm kế 500VDC để đo nhằm tránh đánh giá sai do kiểm tra điện áp-thấp (chẳng hạn như bằng đồng hồ vạn năng);
Phương pháp nối dây: Kết nối đầu cực "L" với mạch sưởi và đầu cực "E" với vỏ thiết bị hoặc dây nối đất; Nếu môi trường ẩm ướt hoặc điện trở thấp, nên sử dụng thiết bị đầu cuối có tấm chắn "G" để loại bỏ nhiễu rò rỉ bề mặt;
Thời gian đọc: Giữ điện áp trong 1 phút sau khi sử dụng và ghi lại giá trị sau khi ổn định;
Yêu cầu về môi trường: Hệ thống phải được tắt nguồn và làm mát đến nhiệt độ<80℃ during testing to ensure operational safety and data accuracy.
3. Khuyến nghị phán đoán và xử lý bất thường
<10MΩ: Risk of leakage exists. Powering on the device is prohibited. Immediately check for moisture, carbonization, ceramic cracking, etc.;
<1MΩ: Severe insulation failure. Disassembly, repair, drying, or component replacement are necessary;
Sudden Drop >50%: Ngay cả khi vẫn ở trên mức chấp nhận được, điều này cho thấy sự lão hóa bên trong hoặc hỏng đệm kín, cần cảnh báo và bảo trì sớm.
